全自動壓痕粒子檢測和阻抗測試設備
該設備應用於AOI-COF/IC/FPC本壓後導電粒子檢測，本壓後粒子以及AG阻抗測試。
細節圖
技術參數
- 名稱：
全自動壓痕粒子檢測和阻抗測試設備
- 功能 ：
全自動壓痕檢測和綁定阻抗測試設備；
- 尺寸：
3~8"&7~17"&21~85"；
- 效率：
3.5 Sec（3~8"）&8Sec（7~17"）&12~19Sec（21~85"）；
- 設備精度：
AOI±2um；
ART±60mΩ；
- 設備尺寸：
AOI-L2000*W1400*H1700mm；
ART-L1800*W1500*H1800mm（for reference）；
- 技術優勢：
高精度高穩定性能；
dimpple過慮功能；
IC/FPC和COF「八字」型bump導電粒子檢測；
- 技術優勢：
AOI：LCM上料→CCD定位→粒子光學檢測→自動出料；
ART：LCM上料→CCD定位→阻抗測試→自動出料。
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